半导体射频测试技术-半导体射频测试-昆山德普福电子公司

无线射频识别系统的读写距离是一个很关键的参数。长距离无线射频识别系统的价格还很贵，半导体芯片射频测试，因此寻找提高其读写距离的方法很重要。影响射频卡读写距离的因素包括天线工作频率、阅读器的rf输出功率、阅读器的接收灵敏度、射频卡的功耗、天线及谐振电路的q值、天线方向、阅读器和射频卡的耦合度，以及射频卡本身获得的能量及发送信息的能量等。大多数系统的读取距离和写入距离是不同的，写入距离大约是读取距离的40%～80%。

造成射频干扰的因素有哪些？

如今可能造成射频干扰的原因正不断增多，有些显而易见容易---，有些则非常细微，很难识别发现。虽然仔细设计公用移动通信站可以提供一定的保护，射频半导体测试设备，但多数情况下对干扰信号只能在根源处进行控制。本文讨论射频干扰的各种可能成因，半导体射频测试技术，了解其根源后将有助于---对其进行测量---和排除。

       射频干扰信号会给无线通信公用移动通信站覆盖区域内的移动通信带来许多问题，如电话掉线、连接出现噪声、信道丢失以及接收语音很差等，而造成干扰的各种可能原因则正以---的速度在增长。