半导体射频测试技术-半导体射频测试-昆山德普福电子公司

射频同轴连接器的命名由主称代号和结构代号两部分组成，中间用短横线-隔开。主称代号射频连接器的主称代号采用国际上通用的主称代号，具体产品的不同结构形式的命名由详细规范作出具体规定，结构形式代表射频连接器的结构。阻抗：几乎所有的射频连接器和电缆被标准化为50ω的阻抗。---的例外普遍是75ω系统通常用于有线电视安装。它也是重要的射频同轴电缆连接器具有相匹配的电缆的特性阻抗。如果不是这样，一个不连续性被引入和损失可能导致。

为---电气和机械结构的连续性，外导体接触面之间的力一般都很大。以n型连接器为例，当螺套的拧紧力矩mt为标准的135n.cm时，由公式mt=kp0×10-3n.m(k为拧紧力矩系数，射频半导体测试设备，此处取k=0.12)，半导体射频测试，可以计算出外导体受到的轴向压力p0可达712n，如果外导体的强度较差，就有可能造成外导体连接端面磨损---甚至变形溃缩。例如sma连接器阳头外导体连接端面的壁厚较薄，仅0.25mm，所用材料多为黄铜，强度较弱，连接力矩稍大，半导体射频测试技术，连接端面就可能被过度挤压产生变形，损坏内导体或介质支撑；且连接器外导体的表面通常都有镀层，较大的接触力会破坏掉连接端面的镀层，导致外导体之间的接触电阻增大，连接器电气性能下降。另外如果射频同轴连接器的使用环境比较---，一段时间后，外导体的连接端面上就会沉积一层灰尘，这层灰尘使外导体之间的接触电阻激增，连接器的插入损耗变大，电气性能指标下降。