半导体射频测试-德普福-射频半导体测试设备

采用超外差结构的另外一种实现方法是利用中频采样来减少信号链上的器件个数。这种方法选择在中频对信号进行采样，而不是在采样前先将信号混合到基带。在头一种超外差结构中，射频半导体测试设备，从中频到基带的转换过程需要以下器件：本机锁相环、智能解调器（混频器）和双向adc（模拟-数字转换器）。如果选择在中频进行采样，那这三个器件可以用一个高的性能的adc来代替。这不仅可以降低信号链的复杂程度，还可以提高信号解调的。

微波这段电磁频谱具有不同于其他波段的如下重要特点：选择性加热，物质吸收微波的能力，主要由其介质损耗因数来决定。介质损耗因数大的物质对微波的吸收能力就强，相反，介质损耗因数小的物质吸收微波的能力也弱。由于各物质的损耗因数存在差异，微波加热就表现出选择性加热的特点。物质不同，半导体射频测试，产生的热效果也不同。水分子属极性分子，介电常数较大，其介质损耗因数也很大，对微波具有强吸收能力。而蛋白质、碳水化合物等的介电常数相对较小，其对微波的吸收能力比水小得多。因此，对于食品来说，含水量的多少对微波加热效果影响很大。