因为adc要在越来越高的频率下工作，所以中频采样结构的功耗变得比头一种超外差结构越来越高，半导体射频测试厂家，并因此而越来越昂贵，这是中频采样结构的较主要的缺点。由于这个原因，射频半导体测试设备，基于中频采样的射频结构往往更适合那些在相对低频或者中频的应用，毕竟这些频段对成本的影响不大。不过随着科技的发展，半导体芯片射频测试，尤其是cmos工艺的引进，使得集成高的性能的器件和电路的价格越来越低，苏州半导体射频测试，在不远的将来，中频采样结构将不再是一种昂贵的选择。
无线射频识别系统的读写距离是一个很关键的参数。长距离无线射频识别系统的价格还很贵，因此寻找提高其读写距离的方法很重要。影响射频卡读写距离的因素包括天线工作频率、阅读器的rf输出功率、阅读器的接收灵敏度、射频卡的功耗、天线及谐振电路的q值、天线方向、阅读器和射频卡的耦合度，以及射频卡本身获得的能量及发送信息的能量等。大多数系统的读取距离和写入距离是不同的，写入距离大约是读取距离的40%～80%。
高频系统一般指其工作频率大于400mhz，典型的工作频段有：915mhz、2450mhz、5800mhz等。高频系统在这些频段上也有众多的标准予以支持。高频系统的基本特点是电子标签及阅读器成本均较高、标签内保存的数据量较大、阅读距离较远（可达几米至十几米），适应物体高速运动性能好、外形一般为卡状、阅读天线及电子标签天线均有较强的方向性。
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