




因为adc要在越来越高的频率下工作,所以中频采样结构的功耗变得比头一种超外差结构越来越高,半导体射频测试厂家,并因此而越来越昂贵,陕西半导体射频测试,这是中频采样结构的较主要的缺点。由于这个原因,基于中频采样的射频结构往往更适合那些在相对低频或者中频的应用,毕竟这些频段对成本的影响不大。不过随着科技的发展,尤其是cmos工艺的引进,使得集成高的性能的器件和电路的价格越来越低,在不远的将来,中频采样结构将不再是一种昂贵的选择。
高频系统一般指其工作频率大于400mhz,典型的工作频段有:915mhz、2450mhz、5800mhz等。高频系统在这些频段上也有众多的标准予以支持。高频系统的基本特点是电子标签及阅读器成本均较高、标签内保存的数据量较大、阅读距离较远(可达几米至十几米),射频半导体测试设备,适应物体高速运动性能好、外形一般为卡状、阅读天线及电子标签天线均有较强的方向性。
在耦合方式(电感-电磁)、通信流程(fdx、hdx、seq)、从射频卡到阅读器的数据传输方法(负载调制、反向散射、高次谐波)以及频率范围等方面,不同的非接触传输方法有---的区别,但所有的阅读器在功能原理上,半导体射频测试技术,以及由此决定的设计构造上都很相似,所有阅读器均可简化为高频接口和控制单元两个基本模块。高频接口包含发送器等,其功能包括:产生高频发射功率以启动射频卡并提供能量;对发射信号进行调制,用于将数据传送给射频卡;接收并解调来自射频卡的高频信号。不同射频识别系统的高频接口设计具有一些差异。
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