芯片半导体测试工厂-德普福电子(商家)

因为adc要在越来越高的频率下工作，所以中频采样结构的功耗变得比头一种超外差结构越来越高，并因此而越来越昂贵，这是中频采样结构的较主要的缺点。由于这个原因，基于中频采样的射频结构往往更适合那些在相对低频或者中频的应用，毕竟这些频段对成本的影响不大。不过随着科技的发展，尤其是cmos工艺的引进，使得集成高的性能的器件和电路的价格越来越低，芯片半导体测试公司，在不远的将来，中频采样结构将不再是一种昂贵的选择。

系统的基本工作流程是：阅读器通过发射天线发送一定频率的射频信号，珠海芯片半导体测试，当射频卡进入发射天线工作区域时产生感应电流，射频卡获得能量；射频卡将自身编码等信息通过卡内置发送天线发送出去；系统接收天线接收到从射频卡发送来的载波信号，经天线调节器传送到阅读器，阅读器对接收的信号进行解调等操作然后送到后台主系统进行相关处理；主系统根据逻辑运算判断该卡的---性，针对不同的设定做出相应的处理和控制，发出指令信号控制执行机构动作。